Fraunhofer-Gesellschaft

Publica

Hier finden Sie wissenschaftliche Publikationen aus den Fraunhofer-Instituten.
1999Übersicht Projektarbeiten FhG-IMS im Verbundprojekt Smart Fabrication QM
Dreizner, A.; Florenz, W.; Lange, U.; Lukat, K.; Miskowiec, P.; Scharfe, R.; Stephan, R.; Wagner, H.
Conference Paper
1999Zuverlässigkeit von Bipolartransistoren in BiCMOS-Technologien
Dreizner, A.; Scharfe, R.; Stephan, R.; Wagner, H.
Conference Paper
1997Zuverlässigkeitstest auf Waferebene
Dreizner, A.; Lukat, K.
Journal Article
1996A new wafer level reliability method for evaluation of ionic induced PMOSFET drift effects
Dreizner, A.; Nagel, J.; Scharfe, R.
Conference Paper
1996Zuverlässigkeitstest auf Waferebene
Dreizner, A.; Scharfe, R.; Lukat, K.; Florenz, W.; Lange, U.
Book Article
1995Ausbeute-Zuverlässigkeits-Korrelation für Leitbahnsysteme in hochintegrierten Schaltungen
Dreizner, A.; Kück, H.; Lukat, K.; Pahlitzsch, J.
Conference Paper
1995Wolframmetallisierung zum Einsatz bei hohen Temperaturen
Werner, R.; Burbach, G.; Leiberg, W.; Lukat, W.; Dreizner, A.
Conference Paper
1994Defect monitoring and layout related yield and reliability prediction for VLSI interconnects
Dreizner, A.; Lukat, Klaus; Pahlitzsch, J.; Kück, H.
Conference Paper
1994Defektmonitoring und layoutspezifische Ausbeute und Zuverlässigkeitsprognosen für Metallisierungssysteme
Dreizner, A.; Pahlitzsch, J.
Conference Proceedings
1993Schnelle Testverfahren zur Charakterisierung von Ausbeute und Zuverlässigkeit hochintegrierter Leitbahnsysteme
Dreizner, A.; Kück, H.; Lukat, K.; Pahlitzsch, J.
Conference Paper
1993Wafer-Level-Processmonitoring für Zuverlässigkeit und Ausbeute integrierter Schaltungen
Dreizner, A.; Lukat, K.; Pahlitzsch, J.
Book Article
1993Zuverlässigkeitsuntersuchungen an MOS-Strukturen auf Wafer-Ebene
Dreizner, A.; Posdziech, G.
Conference Paper