Fraunhofer-Gesellschaft

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Hier finden Sie wissenschaftliche Publikationen aus den Fraunhofer-Instituten.
2009Simulation based analysis of secondary effects on solder fatigue
Dudek, R.; Doering, R.; Bombach, C.; Michel, B.
Conference Paper, Journal Article
2009Simulation Based Analysis of Secondary Effects on Solder Fatigue
Dudek, R.; Doering, R.; Bombach, C.; Michel, B.
Conference Paper
2008Determination of mechanical properties of electronic packaging materials dependent on temperature by means of VEDDAC-method
Walter, H.; Seiler, B.; Bombach, C.
Conference Paper, Journal Article
2006Bestimmung der Querkontraktionszahl von Polymeren in Abhängigkeit von der Temperatur mit Hilfe des UNIDAC-Verfahrens
Walter, H.; Seiler, B.; Bombach, C.; Michel, B.
Conference Paper
2006Experimental investigation for fracture analysis of solder joints in microelectronic and mems applications
Walter, H.; Bombach, C.; Dudek, R.; Faust, W.; Michel, B.
Conference Paper
2005Zuverlässigkeit von Komponenten der Mikrosystemtechnik durch Einbeziehung von Nanoanalytik und Nanomechanik
Michel, B.; Wunderle, B.; Gollhardt, A.; Bombach, C.; Keller, J.
Conference Paper
2003Bestimmung mechanischer Verschiebungsfelder an Siliziumobjekten
Grosser, V.; Helmert, J.; Bombach, C.
Patent
2001In-situ-Messungen an Komponenten der Mikroelektronik und Mikrosystemtechnik mit optischen Methoden
Faust, W.; Bombach, C.; Pritzke, B.; Michel, B.
Conference Paper
2000Evaluation and testing of microsystems using optical methods
Großer, V.; Bombach, C.; Gentzsch, S.; Hillmann, V.; Sommer, J.-P.; Michel, B.
Conference Paper
2000In situ measurement of deformations on microelectronic components by microscopic methods
Faust, W.; Bombach, C.; Michel, M.; Michel, B.
Conference Paper
2000UNIDAC: Cross correlation based deformation analysis at digitised micrographs to study material behaviour and parameters in MST
Dost, M.; Kieselstein, E.; Erb, R.; Seiler, B.; Vogel, J.; Bombach, C.; Großer, V.; Vogel, D.; Michel, B.
Conference Paper
1999Facilities and results of micro deformation measurements
Faust, W.; Bombach, C.; Michel, B.
Book Article
1999Optical measurement methods for MEMS applications
Großer, V.; Bombach, C.; Faust, W.; Vogel, D.; Michel, B.
Book Article
1997Laseroptical deformation measurements on SAA-materials
Faust, W.; Bombach, C.; Oehmigen, M.; Großer, V.; Michel, B.
Conference Paper
1997Laseroptical in-situ-measurements for microfabrication techniques
Hillmann, V.; Bombach, C.; Großer, V.; Krüger, A.
Conference Paper
1997MicroDAC deformation measurement on microelectronic products
Vogel, D.; Bombach, C.; Großer, V.; Michel, B.
Conference Paper
1997Optical analysis of 3D-microstructures produced by additive technologies
Bombach, C.; Großer, V.; Gentzsch, S.; Engelmann, G.; Michel, B.
Conference Paper
1996Laseroptische Verformungsmessungen für die Aufbau- und Verbindungstechnik
Großer, V.; Bombach, C.
Book Article
1995Einsatz der Thermographie und Speckleinterferometrie zur Qualitätssicherung
Bombach, C.
Thesis
1995Laseroptische Analysen von Miniaturbauelementen
Bombach, C.; Großer, V.; Faust, W.; Michel, B.
Conference Paper
1995Laseroptische Verformungsmessungen an Mikroaufbauten
Großer, V.; Lindemann, G.; Faust, W.; Bombach, C.; Michel, B.
Conference Paper
1995Mechanisch-thermische Versagensdetektion an Leiterplatten mittel numerischer und laseroptischer Verfahren
Großer, V.; Sommer, J.-P.; Faust, W.; Bombach, C.; Michel, B.
Conference Paper
1995Thermische Verformungsuntersuchungen an Polymer-Abdeckmassen für Si-Chips - Simulation Tauchlötvorgang
Grosser, V.; Vogel, D.; Bombach, C.; Dudek, R.; Michel, B.
Book Article
1994Mikroskopische Deformationsmessungen mittels Laserinterferometrie
Großer, V.; Bombach, C.; Auersperg, J.; Michel, B.
Conference Paper
1993Lasermeßtechnik für Mikroaktuatoren
Großer, V.; Michel, B.; Bombach, C.
Book Article